天眼查数据显示，芯和半导体科技(上海)股份有限公司的一项名为“基于grid切割的电源完整性快速分析方法和装置”的专利已公布。该专利的申请公布日为2025年2月28日，申请公布号为cn119538856a。
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该发明提出了一种基于Grid切割的电源完整性快速分析方法和装置。具体方法包括：首先确定目标网络；然后在目标网络上添加端口；接着对目标网络进行Grid切割；之后分别提取切割后的版图S参数；最后通过级联各子模块来获得最终的S参数。本发明旨在快速准确地分析电源网络的完整性，从而提高分析效率并降低成本。
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